Local versus Global Lessons for Defect Prediction and Effort Estimation

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dc.contributor.author Menzies, Tim
dc.contributor.author Butcher, Andrew
dc.contributor.author Cok, David
dc.contributor.author Marcus, Andrian
dc.contributor.author Layman, Lucas
dc.date.accessioned 2022-03-02T09:49:35Z
dc.date.available 2022-03-02T09:49:35Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.issn 0098-5589
dc.identifier.uri http://repository.usthb.dz//xmlui/handle/123456789/9059
dc.description 822-834 p. ; 2.280ko. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Institute of electrical and electronics engineers en_US
dc.subject Exploration de données en_US
dc.subject Prédictions conformes (informatique) en_US
dc.subject ROCESS : ingénierie logicielle en_US
dc.title Local versus Global Lessons for Defect Prediction and Effort Estimation en_US
dc.type Article en_US


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Nom: nl3116.pdf
Taille: 2.225Mo
Format: PDF
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