Dynamic Testing for Deadlocks via Constraints

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dc.contributor.author Cai, Yan
dc.contributor.author Lu, Qiong
dc.date.accessioned 2022-10-26T08:48:51Z
dc.date.available 2022-10-26T08:48:51Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.uri http://repository.usthb.dz//xmlui/handle/123456789/9250
dc.description 825-842 p. ; 2.044ko. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Institute of electrical and electronics engineers en_US
dc.relation.ispartofseries Institute of electrical and electronics engineers;vol.42-2016
dc.subject Détecteurs d’interblocage en_US
dc.subject ConLock : technique en_US
dc.subject Déclenchement de blocage en_US
dc.subject Bogues (informatique) en_US
dc.subject Logiciels : Défauts de conception en_US
dc.title Dynamic Testing for Deadlocks via Constraints en_US
dc.type Article en_US


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Nom: nl3310.pdf
Taille: 1.995Mo
Format: PDF
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