Coverage-Aware Test Database Reduction

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dc.contributor.author Tuya, Javier
dc.contributor.author Riva, Claudio de la
dc.contributor.author Suarez-Cabal, Maria José
dc.contributor.author Blanco, Raquel
dc.date.accessioned 2022-10-26T09:19:10Z
dc.date.available 2022-10-26T09:19:10Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.uri http://repository.usthb.dz//xmlui/handle/123456789/9254
dc.description 941-959 p. ; 1.715ko. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Institute of electrical and electronics engineers en_US
dc.relation.ispartofseries Institute of electrical and electronics engineers;vol.42-2016
dc.subject Système de gestion de base de données (SGBD) en_US
dc.subject SQL en_US
dc.subject Conception de test en_US
dc.subject Couverture de test du code en_US
dc.subject Réduction de la base de données de test en_US
dc.title Coverage-Aware Test Database Reduction en_US
dc.type Article en_US


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Nom: nl3322.pdf
Taille: 1.674Mo
Format: PDF
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