Parallel Algorithms for Testing Finite State Machines:Generating UIO Sequences

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dc.contributor.author Hierons, Robert M.
dc.contributor.author Turker, Uraz Cengiz
dc.date.accessioned 2022-10-26T09:49:04Z
dc.date.available 2022-10-26T09:49:04Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.uri http://repository.usthb.dz//xmlui/handle/123456789/9261
dc.description 1077-1091 p. ; 1.412ko. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Institute of electrical and electronics engineers en_US
dc.relation.ispartofseries Institute of electrical and electronics engineers;vol.42-2016
dc.subject Génie logiciel en_US
dc.subject Logiciels : Maintenance en_US
dc.subject Débogage en_US
dc.subject Machine à états finis en_US
dc.subject Génération unique de séquences d’entrées-sorties en_US
dc.subject Unités de traitement graphique à usage général en_US
dc.title Parallel Algorithms for Testing Finite State Machines:Generating UIO Sequences en_US
dc.type Article en_US


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Nom: nl3332.pdf
Taille: 1.378Mo
Format: PDF
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