Dépôt couche par couche et caractérisation du silicium amorphe effet de la température de dépôt et effet de la polarisation du porte-substrat

Dépôt couche par couche et caractérisation du silicium amorphe effet de la température de dépôt et effet de la polarisation du porte-substrat

Ben Abdelmoumen, Abdelmadjid
URI: http://hdl.handle.net/123456789/3099
Date: 2007

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96 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)

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