Etude expérimentale des dégradations des transistors N-MOS induites par des radiations ionisantes ( rayons X)

Etude expérimentale des dégradations des transistors N-MOS induites par des radiations ionisantes ( rayons X)

Derouiche, Yazid
URI: http://hdl.handle.net/123456789/3329
Date: 2003

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119 p. : fig. ; 29 cm. (+ microfiche, cd).

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