Caractérisation par photoluminescence des films de silicium amorphe hydrogéné dopés in situ en erbium et déposés par pulvérisation D.C.

Caractérisation par photoluminescence des films de silicium amorphe hydrogéné dopés in situ en erbium et déposés par pulvérisation D.C.

Mouheb, Ouiza
URI: http://hdl.handle.net/123456789/3986
Date: 2004

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82 p. : fig. ; 30 cm. (+ CD-Rom)

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