Caractérisation par photoluminescence des films de silicium amorphe hydrogéné dopés in situ en erbium et déposés par pulvérisation D.C.

dc.contributor.author	Mouheb, Ouiza
dc.date.accessioned	2015-11-17T11:26:28Z
dc.date.available	2015-11-17T11:26:28Z
dc.date.issued	2004
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/3986
dc.description	82 p. : fig. ; 30 cm. (+ CD-Rom)	fr_FR
dc.language.iso	fr	fr_FR
dc.subject	Photoluminescence	fr_FR
dc.subject	Semiconducteurs amorphes	fr_FR
dc.title	Caractérisation par photoluminescence des films de silicium amorphe hydrogéné dopés in situ en erbium et déposés par pulvérisation D.C.	fr_FR
dc.type	Thesis	fr_FR