Détermination de propriétés optoélectroniques du silicium poreux formé électrochimiquement et d'oxyde d'étain à partir de mesure de réflectance par le modèle de Drude-Lorentz et l'analyse de Kramers

Détermination de propriétés optoélectroniques du silicium poreux formé électrochimiquement et d'oxyde d'étain à partir de mesure de réflectance par le modèle de Drude-Lorentz et l'analyse de Kramers

Kadi, Mohamed
URI: http://hdl.handle.net/123456789/4079
Date: 2010

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105 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)

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