Caractérisation du silicium en couche mince déposé le silicium poreux par la technique de pulvérisation DC magnétron

Caractérisation du silicium en couche mince déposé le silicium poreux par la technique de pulvérisation DC magnétron

Zougar, Lyes
URI: http://hdl.handle.net/123456789/4290
Date: 2010

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98 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)

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