Caractérisation du silicium en couche mince déposé le silicium poreux par la technique de pulvérisation DC magnétron

dc.contributor.author	Zougar, Lyes
dc.date.accessioned	2015-12-14T09:36:09Z
dc.date.available	2015-12-14T09:36:09Z
dc.date.issued	2010
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/4290
dc.description	98 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)	fr_FR
dc.language.iso	fr	fr_FR
dc.subject	Silicium poreux	fr_FR
dc.subject	Couches minces	fr_FR
dc.subject	Magnétrons	fr_FR
dc.subject	Semiconducteurs amorphes	fr_FR
dc.title	Caractérisation du silicium en couche mince déposé le silicium poreux par la technique de pulvérisation DC magnétron	fr_FR
dc.type	Thesis	fr_FR