Caractérisation et étude expérimentale des effets des radiations Y (60co) sur les transistors NMOS par la technique du pompage de charge

Caractérisation et étude expérimentale des effets des radiations Y (60co) sur les transistors NMOS par la technique du pompage de charge

Djezzar, Boualem
URI: http://hdl.handle.net/123456789/4908
Date: 2000

Description:

141 p. : ill. ; 30 cm.(+ microfiche).

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