Caractérisation et étude expérimentale des effets des radiations Y (60co) sur les transistors NMOS par la technique du pompage de charge

dc.contributor.author	Djezzar, Boualem
dc.date.accessioned	2016-10-06T09:13:30Z
dc.date.available	2016-10-06T09:13:30Z
dc.date.issued	2000
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/4908
dc.description	141 p. : ill. ; 30 cm.(+ microfiche).	fr_FR
dc.language.iso	fr	fr_FR
dc.subject	Physique: Electronique	fr_FR
dc.subject	Radiation:Transistor	fr_FR
dc.subject	Transistor:Pompage de charge	fr_FR
dc.title	Caractérisation et étude expérimentale des effets des radiations Y (60co) sur les transistors NMOS par la technique du pompage de charge	fr_FR
dc.type	Thesis	fr_FR