On-wafer single-pulse thermal load-pull rf characterization of trapping phenomena in AlGaN/GaN HEMTs

On-wafer single-pulse thermal load-pull rf characterization of trapping phenomena in AlGaN/GaN HEMTs

Benvegnù, Agostino; Laurent, Sylvain; Meneg, Matteo
URI: http://hdl.handle.net/123456789/6813
Date: 2016-03

Description:

p.767 - 775

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