Developer Micro Interaction Metrics for Software Defect Prediction
Ouvrir une session
Accueil de DSpace
→
Électronique et Électrotechnique
→
Articles Électroniques
→
Voir le document
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Developer Micro Interaction Metrics for Software Defect Prediction
Lee, Taek
;
Nam, Jaechang
;
Han, Donggyun
;
Kim, Sunghun
;
In, Hoh Peter
URI:
http://repository.usthb.dz//xmlui/handle/123456789/9259
Date:
2016
Description:
1015-1035 p. ; 1.551ko.
Afficher la notice complète
Fichier(s) constituant ce document
Nom:
nl3326.pdf
Taille:
1.514Mo
Format:
PDF
Voir/
Ouvrir
Ce document figure dans la(les) collection(s) suivante(s)
Articles Électroniques
Chercher dans le dépôt
Chercher dans le dépôt
Cette collection
Parcourir
Tout DSpace
Communautés & Collections
Par date de publication
Auteurs
Titres
Sujets
Cette collection
Par date de publication
Auteurs
Titres
Sujets
Mon compte
Ouvrir une session
S'inscrire
