Developer Micro Interaction Metrics for Software Defect Prediction

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dc.contributor.author Lee, Taek
dc.contributor.author Nam, Jaechang
dc.contributor.author Han, Donggyun
dc.contributor.author Kim, Sunghun
dc.contributor.author In, Hoh Peter
dc.date.accessioned 2022-10-26T09:38:13Z
dc.date.available 2022-10-26T09:38:13Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.uri http://repository.usthb.dz//xmlui/handle/123456789/9259
dc.description 1015-1035 p. ; 1.551ko. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Institute of electrical and electronics engineers en_US
dc.relation.ispartofseries Institute of electrical and electronics engineers;vol.42-2016
dc.subject Génie logiciel en_US
dc.subject Métriques logicielles en_US
dc.subject Distribution de défauts logiciel en_US
dc.subject Métriques de micro-interaction en_US
dc.subject Interaction avec les développeurs, Mylyn en_US
dc.title Developer Micro Interaction Metrics for Software Defect Prediction en_US
dc.type Article en_US


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Nom: nl3326.pdf
Taille: 1.514Mo
Format: PDF
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