Comments on Researcher Bias : The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction

Comments on Researcher Bias : The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction

Tantithamthavorn, Chakkrit; McIntosh, Shane; Hassan, Ahmed E.; Matsumoto, Kenichi
URI: http://repository.usthb.dz//xmlui/handle/123456789/9262
Date: 2016

Description:

1092-1094 p. ; 140ko.

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