Etude des capteurs à base de silicium application des méthodes de microscopie à sonde de type KFM ou SNOM

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dc.contributor.authorDjebbouri, Mustapha
dc.date.accessioned2015-01-06T13:30:36Z
dc.date.available2015-01-06T13:30:36Z
dc.date.issued2007
dc.description142 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)fr_FR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/1535
dc.language.isofrfr_FR
dc.subjectSemiconducteursfr_FR
dc.subjectMicroscopie à sonde à balayagefr_FR
dc.titleEtude des capteurs à base de silicium application des méthodes de microscopie à sonde de type KFM ou SNOMfr_FR
dc.typeThesisfr_FR

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