Parallel Algorithms for Testing Finite State Machines:Generating UIO Sequences
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Date
2016
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Volume Title
Publisher
Institute of electrical and electronics engineers
Abstract
Description
1077-1091 p. ; 1.412ko.
Keywords
Génie logiciel, Logiciels : Maintenance, Débogage, Machine à états finis, Génération unique de séquences d’entrées-sorties, Unités de traitement graphique à usage général