Developer Micro Interaction Metrics for Software Defect Prediction
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Date
2016
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Institute of electrical and electronics engineers
Abstract
Description
1015-1035 p. ; 1.551ko.
Keywords
Génie logiciel, Métriques logicielles, Distribution de défauts logiciel, Métriques de micro-interaction, Interaction avec les développeurs, Mylyn