Comments on Researcher Bias : The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction
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Date
2016
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Volume Title
Publisher
Institute of electrical and electronics engineers
Abstract
Description
1092-1094 p. ; 140ko.
Keywords
Génie logiciel, Distribution de défauts logiciel, Assurance qualité des logiciels, Biais des chercheurs, Apprentissage automatique