Comments on Researcher Bias : The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction
Files
Date
2016
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Institute of electrical and electronics engineers
Abstract
Description
1092-1094 p. ; 140ko.
Keywords
Génie logiciel, Distribution de défauts logiciel, Assurance qualité des logiciels, Biais des chercheurs, Apprentissage automatique