Caractérisation par photoluminescence des films de silicium amorphe hydrogéné dopés in situ en erbium et déposés par pulvérisation D.C.

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dc.contributor.authorMouheb, Ouiza
dc.date.accessioned2015-11-17T11:26:28Z
dc.date.available2015-11-17T11:26:28Z
dc.date.issued2004
dc.description82 p. : fig. ; 30 cm. (+ CD-Rom)fr_FR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/3986
dc.language.isofrfr_FR
dc.subjectPhotoluminescencefr_FR
dc.subjectSemiconducteurs amorphesfr_FR
dc.titleCaractérisation par photoluminescence des films de silicium amorphe hydrogéné dopés in situ en erbium et déposés par pulvérisation D.C.fr_FR
dc.typeThesisfr_FR

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