Caractérisation de l'interface silicium/électrolyte HF par spectroscopie infrarouge. Elaboration de la structure dioxyde d'étain (SnO2)/silicium (poreux)/silicium (n)
No Thumbnail Available
Files
Date
2004
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Abstract
Description
144 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)
Keywords
Semiconducteurs, Silicium, Solutions d'électrolyte