Caractérisation de l'interface silicium/électrolyte HF par spectroscopie infrarouge. Elaboration de la structure dioxyde d'étain (SnO2)/silicium (poreux)/silicium (n)

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dc.contributor.authorHouari, Ratiba épse. Outemzabet
dc.date.accessioned2015-04-26T10:38:32Z
dc.date.available2015-04-26T10:38:32Z
dc.date.issued2004
dc.description144 p. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)fr_FR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/2552
dc.language.isofrfr_FR
dc.subjectSemiconducteursfr_FR
dc.subjectSiliciumfr_FR
dc.subjectSolutions d'électrolytefr_FR
dc.titleCaractérisation de l'interface silicium/électrolyte HF par spectroscopie infrarouge. Elaboration de la structure dioxyde d'étain (SnO2)/silicium (poreux)/silicium (n)fr_FR
dc.typeThesisfr_FR

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