Elaboration et caractérisations optiques, électriques et photoélectriques de structures à base de silicium nanostructuré
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Date
20-12-2018
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Description
125 p. : ill. ; 30 cm (+ CD-Rom)
Keywords
Spectroscopie d'impédance ; Couches minces ; Silicium ; Nanostructures ; Semiconducteurs amorphes