Elaboration et caractérisations optiques, électriques et photoélectriques de structures à base de silicium nanostructuré

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dc.contributor.authorSeba, Hadj Yahia
dc.date.accessioned2019-07-15T10:33:33Z
dc.date.available2019-07-15T10:33:33Z
dc.date.issued20-12-2018
dc.description125 p. : ill. ; 30 cm (+ CD-Rom)en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/7718
dc.language.isofren_US
dc.subjectSpectroscopie d'impédance ; Couches minces ; Silicium ; Nanostructures ; Semiconducteurs amorphesen_US
dc.titleElaboration et caractérisations optiques, électriques et photoélectriques de structures à base de silicium nanostructuréen_US
dc.typeThesisen_US

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